Ανάλυση μορφολογίας επιφάνειας με ηλεκτρονικά μικροσκόπια σάρωσης.
Φόρτωση...
Ημερομηνία
2012-12-04T11:35:20Z
Συγγραφείς
Τίτλος Εφημερίδας
Περιοδικό ISSN
Τίτλος τόμου
Εκδότης
Τ.Ε.Ι. Κρήτης, Τεχνολογικών Εφαρμογών (Σ.Τ.Εφ), Τμήμα Ηλεκτρολόγων Μηχανικών Τ.Ε.
T.E.I. of Crete, School of Engineering (STEF), Department of Electrical Engineering
T.E.I. of Crete, School of Engineering (STEF), Department of Electrical Engineering
Επιβλέπων
Περίληψη
Ο σκοπός αυτής της εργασίας είναι αφενός η παρουσίαση των δυνατοτήτων ενός ηλεκτρονικού μικροσκοπίου σάρωσης (S.E.M scanning electron microscope) και αφετέρου η ανάλυση διάφορων δειγμάτων σε σχέση με την μορφολογία και την σύσταση τους