Ανάλυση μορφολογίας επιφάνειας με ηλεκτρονικά μικροσκόπια σάρωσης.
Loading...
Date
2012-12-04T11:35:20Z
Authors
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Τ.Ε.Ι. Κρήτης, Τεχνολογικών Εφαρμογών (Σ.Τ.Εφ), Τμήμα Ηλεκτρολόγων Μηχανικών Τ.Ε.
T.E.I. of Crete, School of Engineering (STEF), Department of Electrical Engineering
T.E.I. of Crete, School of Engineering (STEF), Department of Electrical Engineering
Advisor
Abstract
Ο σκοπός αυτής της εργασίας είναι αφενός η παρουσίαση των δυνατοτήτων ενός ηλεκτρονικού μικροσκοπίου σάρωσης (S.E.M scanning electron microscope) και αφετέρου η ανάλυση διάφορων δειγμάτων σε σχέση με την μορφολογία και την σύσταση τους